XXIX Российская конференция по электронной микроскопии и VII школа молодых ученых

27 августа - 1 сентября 2022 года в г.Черноголовка состоится XXIX Российская конференция по электронной микроскопии и VII школа молодых ученых Современные методы электронной, зондовой микроскопии и комплементарные методы в исследовании наноструктур и наноматериалов (ссылка на сайт).

Национальные конференции по электронной микроскопии проводятся Научным советом по электронной микроскопии РАН при участии Института кристаллографии им. А.В. Шубникова РАН и Института проблем технологии микроэлектроники и особочистых материалов РАН на протяжении более чем 50 лет. Такие национальные конференции стали для российских ученых центральным информационным полем, обеспечивающим знаниями и навыками работы на новом высокотехнологичном оборудовании, научными контактами и способствующими привлечению молодежи.

Конференция будет сопровождаться изданием сборника тезисов. Шаблон тезисов и рекомендации по их оформлению Вы найдете в личном кабинете после регистрации. Выпуску сборника будет присвоен международный номер ISBN и идентификатор DOI. Расширенные статьи по материалам конференции будут опубликованы в журналах, индексируемых в базах данных Scopus, Web of Science и РИНЦ ("Кристаллография", "Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования", "Российские нанотехнологии", "Известия РАН").

Направления

• Новые методы просвечивающей/растровой электронной микроскопии, электронной дифракции и микроанализа. Hовые приборы, элементы электронной оптики, детекторы и обработка изображений.
• Крио-ЭМ и применение электронной, конфокальной сканирующей микроскопии в биологии и медицине.
• Электронная микроскопия, электронная дифракция и микроанализ в исследовании новых материалов и процессов.
• Растровая электронная и ионная микроскопия. In-situ исследования в РЭМ.
• Электронная микроскопия в геологии.
• Методы электронной микроскопии и микроанализа в исследовании предметов культурного наследия. Другие применения электронной микроскопии.
• Сканирующая зондовая микроскопия.
• Исследование сверхбыстрых процессов, фемтосекундная микроскопия, динамическая электронная кристаллография.
• Электронная и ионная литография. Микроскопия в современных технологиях.
• Комплементарные методы.