3 августа 2026
Коллектив ученых ТвГУ под руководством д.ф.-м.н. Сдобнякова Н.Ю. совместно со специалистами РТУ МИРЭА и Department of Materials Science and Engineering (University of Virginia) опубликовали результаты исследований, связанные с изучением закономерностей формирования фрактального рельефа наноразмерных пленок молибдена с использованием атомно-силовой и сканирующей туннельной микроскопии. В журнале Materials Letters (Volume 421) уже доступна к прочтению статья "Fractal relief on the surface of molybdenum films".
В работе описаны инструменты, а также методы редактирования и анализа двумерных изображений, полученных с помощью этих методов исследования. Фрактальные размерности полученных агломератов на пленках молибдена определялись в разных масштабах. Значения были получены для исходных изображений и изображений, полученных с применением метода пороговой фильтрации, соответственно. Метод сканирующей туннельной микроскопии продемонстрировал более стабильные значения фрактальной размерности, в то время как подход атомно-силовой микроскопии оказался более чувствительным к изменениям толщины пленки, особенно при уменьшении масштаба до 500 нм. При использовании метода «ограничивающих прямоугольников» для оценки фрактальной размерности был получен диапазон значений от 2,55 до 2,84, в то время как метод «морфологических оболочек» дал значения в диапазоне от 2,41 до 2,78.
Исследования выполнены при поддержке Минобрнауки РФ в рамках выполнения государственного задания в сфере научной деятельности (проект № 0817-2026-0006), а также в рамках государственного задания ИРЭ им. В.А. Котельникова РАН.